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Nota técnica | Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semicondutores de convertidores CC-CC aislados

 

Por Andrés M. Airabella*, Germán G. Oggier, Laureano Piris-Botalla, Cristian A. Falco, Guillermo O. García
Grupo de Electrónica Aplicada (GEA), Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Río Cuarto

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Nota técnica | Los sistemas de protección contra rayos (SPCR) en la normativa técnica argentina e internacional: el método de la “esfera rodante”

 

Por Ing. Juan Carlos Arcioni, IRAM, e Ing. Jorge Francisco Giménez, CITEDEF

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Nota técnica | Admitancia fácil, la función de protección de fallo a tierra definitiva para redes compensadas

 

Por Ari Wahlroos, Janne Altonen, Przemyslaw Balcerek, Marek Fulczyk – ABB

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Nota técnica | Comportamiento de los grupos patrones de referencia. Actualización de las unidades volt y ohm del laboratorio eléctrico de metrología (LEM), FIUBA

 

Ings. Carlos A. Pérez, Gabino E. Colangelo, Rafael J. Albarracín Valencia
Laboratorio Eléctrico de Metrología (LEM) FIUBA

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